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掃描開(kāi)爾文探針

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產(chǎn)品名稱(chēng):
掃描開(kāi)爾文探針

產(chǎn)品概要: 開(kāi)爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置,用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。材料表面的功函數通常由最上層的1-3層原子或分子決定,所以開(kāi)爾文探針是一種最靈敏的表面分析技術(shù)。主要型號:KP020 (單點(diǎn)開(kāi)爾文探針),SKP5050(掃描開(kāi)爾文探針)。
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開(kāi)爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置,用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。材料表面的功函數通常由最上層的1-3層原子或分子決定,所以開(kāi)爾文探針是一種最靈敏的表面分析技術(shù)。主要型號:KP020 (單點(diǎn)開(kāi)爾文探針),SKP5050(掃描開(kāi)爾文探針)。
 
掃描開(kāi)爾文探針系統 (SKP):
SKP5050系統是一款可以被大多數客戶(hù)所接收的高端掃描開(kāi)爾文探針系統,它是在SKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置,其規格如下:
□ 2毫米探針,50微米探針(選配);
□ 功函數分辨率 1-3 meV(2毫米針尖),5-10 meV(50微米針尖);
□ 針尖到樣品表面高度可以達到400納米以?xún)龋?br> □ 表面勢和樣品形貌3維地圖;
□ 探針掃描或樣品掃描選配;
□ 彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專(zhuān)業(yè)的光學(xué)固定裝置;
□ 參考樣品(帶相應的掃描開(kāi)爾文探針系統的形貌);
□ 備用的針尖放大器;
 
儀器特色:
□ 全球第一臺商用的完全意義上的開(kāi)爾文探針系統;
□ 最高分辨率的功函數和表面勢,最好的穩定性和數據重現性;
□ 非零專(zhuān)利技術(shù)(Off-null, ON) ——ON信號探測系統在高信號水平下工作,與基于零信號原理(null-based, LIA)的系統相比,不會(huì )收到噪聲的影響擁有高靈敏度;
□ 高度調節專(zhuān)利技術(shù) ——我們的儀器在測量和掃描時(shí)可以控制針尖的高度。因為功函數受樣品形貌的影響,針尖與樣品表面距離的調節意味著(zhù)數據的高重現性且不會(huì )漂移;
□ 該領(lǐng)域內,擁有最好的信噪比;
□ 快速響應時(shí)間 ——測量速度在0.1-10秒間,遠快于其他公司產(chǎn)品;
□ 功能強的驅動(dòng)器 ——選用Voice-coil(VC)驅動(dòng)器,與通常的壓電驅動(dòng)器相比,VC驅動(dòng)器頻率要穩定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作;
□ 所有開(kāi)爾文探針參數的全數字控制;

 

ON

非零探測 Off Null detection

HR

高度調節模式 Height Regulation mode

SM

實(shí)際開(kāi)爾文探針信號監控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal

UC

用戶(hù)通道,同時(shí)測量外部參數 User Channels, simultaneous measurement of external parameters

DC

電流探測系統去除漂移效應 Current Detection system rejects stray capacity effects

PP

平行板震動(dòng)模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode

SA

信號平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)

WA

功函數平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting

DC

所有探針及探測參數的數字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters

QT

針尖快速改變 Quick-change Tip, variable spatial resolution

DE

數據輸出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software

OC

輸出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit

FC

法拉第籠(電磁干擾防護罩) Faraday Cage (EMI Shield)

RS

金-鋁參考樣品 Gold-Aluminium Reference Sample

額外選配項

SPV

表面光伏電壓軟硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package

RH

相對濕度腔 Relative Humidity Chamber

AC

控制氣體進(jìn)口的環(huán)境單元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet

EDS

外部數據示波鏡 External Digital Oscilloscope

OPT

彩色相機 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts

ST

針尖置換 Replacement Tips

GCT

鍍金的針尖替換 Gold Coated Replacement Tips

XYZ

25.4毫米手動(dòng)3維控制臺 3-axis 25.4 mm Manual Stage

 

應用領(lǐng)域:
吸附,電池系統,生物學(xué)和生物技術(shù),催化作用,電荷分析,涂層,腐蝕,沉積,偶極層形成,顯示技術(shù),教育,光/熱散發(fā),費米級掃描,燃料電池,離子化,MEMs,金屬,微電子,納米技術(shù),Oleds,相轉變,感光染色,光伏譜學(xué),高分子半導體,焦熱電,半導體,傳感器,皮膚,太陽(yáng)能電池,表面污染,表面化學(xué),表面光伏,表面勢,表面物理,薄膜,真空研究,功函數工程學(xué);
 
參考用戶(hù):
吉林大學(xué)、哈工大、大連理工大學(xué)、湖南大學(xué)、浙江大學(xué)、復旦大學(xué)、華中科技大學(xué)、華南理工大學(xué)、合肥工大、中科院納米中心、中科院理化所、中科院高能所等...

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